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UV-A 型紫外輻照計采用 SMT 貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定， 適用性強

紫外輻照計適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。

TES-1330A照度計測量范圍：20/200/2000/20000 Lux用于商場、辦公室、家庭等場所。

輻照計采用 SMT 貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強，可以用來測量可見光輻照度，

TES-1339專業(yè)級便攜照度計可進行光強度測量，扣除雜散光之光源照度測量，時間設定自動鎖定測量，有*之資料記錄及讀值功能 （50組）。